Ausgestanztes USAF-Testbild
420 Objektive Kameras Testen & Messen Mechanik Optik Laser Mikroskopie Beleuchtung Testcharts
• Aufl ösungsbestimmung von Röntgenstrahlung sowie UV-, thermischen und fernen IR-Systemen
• Einfache Montage • Ideal für Transmission
Unsere ausgestanzten USAF-Testbilder sind aus extrem dünnen, elektrogeformten Nickelsubstraten gefertigt.
Das Testbild enthält kein Glas, sodass das Licht nur durch Luft läuft, chromatische Aberration und Absorption
sind damit ausgeschlossen. Das Testmuster deckt Gruppe 0, Element 1 bis Gruppe 3, Element 6 ab. Unsere
UV-Quarzglas & fl uoreszierenden USAF-Aufl ösungstestbilder können für die meisten nahen UV-Anwendungen
verwendet werden, während diese ausgestanzten Testbilder auch für tiefes UV und fernes IR eingesetzt werden
können.
Minimale Aufl ösung: Gruppe 0, Element 1 (1 lp/mm)
Maximale Aufl ösung: Gruppe 3, Element 6 (14,25 lp/mm)
Dicke Halterung: 0,0405"
Material Halterung: eloxiertes Aluminium
Dicke Nickelsubstrat: 0,0005" nominal
Ausgestanztes USAF-Testbild
Beschreibung Produktnr. Preis
Ausgestanztes USAF-Testbild – 38 mm Durchmesser #58-402 €814,00
Metrische Optikhalterung für Optiken mit 38,1 mm Durchmesser #64-565 €29,75
Testcharts in Objektträgerform für hochaufl ösende Mikroskopie
• Kleine Testmuster – 100 nm und 3300 lp/mm
• Herstellung durch hochgenaue Elektronenstrahl-Lithographie
• Negative Muster
Die Testcharts in Objektträgerform für hochaufl ösende Mikroskopie werden durch hochpräzise Elektronenstrahl-
Lithographie hergestellt. Die Testmuster werden auf ein Substrat mit breitbandiger Transmission (DUV-VIS-NIR)
und 10 × 10 mm² geätzt, auf dem eine Chromschicht mit hoher optischer Dichte aufgebracht ist. Durch Entfernung
der Chromschicht entstehen Muster mit Details bis zu 100 nm. Die Testcharts besitzen eine ausgezeichnete
Formbeständigkeit und sind in einer metallischen Objektträgerhalterung montiert. Das negative Muster jedes
Testcharts ermöglicht transparente Strukturen, der Hintergrund wird durch die Chromschicht geblockt.
Substrat: Quarzglas
Substrat-Abmessungen (mm): 10 x 10 x 1
Größe Halterung (mm): 75 x 25 x 1,5"
Material: Edelstahl mit Lasergravur
Spektralbereich (nm): 200 - 2000
Testcharts in Objektträgerform für hochaufl ösende Mikroskopie
Beschreibung Produktnr. Preis
Siemensstern für hochaufl ösende Mikroskopie #37-538 €1.100,00
USAF-Testchart für hochaufl ösende Mikroskopie #37-539 €1.100,00
Schachbrettmuster für hochaufl ösende Mikroskopie #37-540 €1.100,00
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Produktnr./Preis #53-715 €129,00
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USAF 1951 Testbild Kontraststufen
Produktnr./Preis #53-714 €129,00
USAF 1951
und Punktraster
IEEE-Aufl ösungstestbild
IEEE-Aufl ösungstestbild
Produktnr./Preis #54-802 €181,00
USAF-Aufl ösungstestbild
Taschenformat
Aufl ösungschart
Produktnr./Preis #83-001 €42,00
USAF 1951 und Punktraster
Produktnr./Preis #62-465 €109,00
Aufl ösungstestbild Taschenformat
Produktnr./Preis #38-710 €7,00
+49 (0) 6131 5700-0 | Edmund Optics® N NEUES PRODUKT PREISSENKUNG
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